индекс УДК описание примечания
539.21 Свойства твердого тела. Свойства молекулярных систем
539.22 Изотропия и анизотропия в отношении структуры молекулярных систем. Упорядоченные структуры. Текстуры молекулярных систем и материалов главным образом синтетических см. 537.226.5 Изотропия и анизотропия (Электростатика)
см. 548.735.6 Определение текстуры кристаллических агрегатов. Ориентация кристаллитов
см. 552.122 Структура и текстура пород
см. 620.18 Исследование структуры материалов
539.23 Получение тонких слоев, тонких пленок см. 621.357.7 Гальваностегия. Гальванотехника
см. 621.793 Нанесение металлических и неметаллических покрытий
см. 621.794 Химическая обработка и отделка поверхностей
539.24 Микрофотографические методы анализа микростуктуры твердого тела, субструктуры
539.25 Анализ микроструктуры и свойств твердого тела при помощи ультрамикроскопа и электронного микроскопа см. 537.533.35 Электронная микроскопия
см. 620.187 Электронно-микроскопические методы исследования
см. 621.385.833 Электронные микроскопы
см. 681.723.25 Ультрамикроскопы
539.26 Ренгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей см. 537.531 Электромагнитное излучение
см. 543.422.8 Абсорбционный спектральный анализ с применением излучения различных длин волн
см. 548.73 Рентгенографический анализ кристаллов. Рентгенографическое исследование структуры
см. 620.179.152.1 Просвечивание рентгеновскими лучами
см. 612.386 Рентгенотехника
539.27 Электронография. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции электронов, нейтронов и протонов см. 548.74 Исследования кристаллов при помощи потока электронов и катодных лучей
см. 620.179.153/.155 Просвечивание бета-лучами и нейтронами